浅析继电器检测中的常见问题

时间:2024-12-26 12:27:06 来源:作文网 作者:管理员

摘要:作为继电器运行管理的关键环节,检验测试对于保障继电器运行的安全性和可靠性具有重要作用。文章介绍了继电器的检测原理及测试项目,探讨了继电器检测中的常见问题,以期为相关技术与研究人员提供参考。

关键词:继电器;运行管理;检测测试;继电器检测设备;继电器检测原理 文献标识码:A

当前科学技术水平迅速发展,继电器的设计与加工制造水平也在逐步提升,相应的检测技术也获得了长足发展。同时随着用户使用需求的不断提高,大量用户都需求生产厂家提供必要的检测方法及检测技术。然而,当前部分企业或制造厂家在继电器检测中仍存在部分问题,这在一定程度上影响了继电器检测的ฒ持续推广。因此,加强有关继电器检测的问题探析,对于提升继电器的检测水平具有重要的理论和现实意义。

1 继电器的检测设备组成及测试项目

1.1 继电器检测设备组成

1.1.1 模拟负载箱:内置的模拟负载主要由三相电阻负载构成,Y型连接,各项负载均分ซ成5段,其中4段负载采用30A,剩余一段负载则可在0~30A范围内调整,利用多个负载段的组合调节,可得到0~150A的多个不同负载,能有效提供电气回路负载。

1.1.3 辅控台:安置有电源开关、接线端子及指示仪表等,主要用于测试电寿命、触点接触电压、过负荷性能等项目。

1.1.4 主控台:其包含功能模块、主控板、仪表仪器等,主要用于测试机械寿命、触点接触电阻、动作值等项目。

2 继电器检测中的常见问题

2.1 触点接触电阻稳定性

触点接触电阻是继电器进行负载电路切换的执行元件,其稳定性对被控电路的稳定性将产生直接影响,所以触点电阻是继电器检测的必须参数之一。

2.1.1 接触电阻值会受到触点压力的影响,继电器加工制作完成后,触点压力便同线圈施加电压有关,也就是受到磁路中的线圈安匝影响。当前动合触点电路电阻通常是在额定电压状态下进行检测的,由此便难以分辨多个线圈安匝下触点电路电阻的可靠性。在继电器工作过程中,标准要求为线圈需施加额定电压,但在不同工作环境和时间的影响下,实际的工作安匝并非相同,最低可降低到稍微高于保持安匝。触点电路电阻会随着触点压力的变化而不断变化,要想准确检测其变化程度,则必须在不同电压条件下对动合触点的电路电阻进行测量。因此部分用户会要求在标准的额定电压、吸合电压和保持电压下对动合触点电路电阻进行测量,在标准的释放电压、不动作电压和零压下对动断触点电路电阻进行测量,以保证触点电路电阻的可靠性。

2.2 吸合电压的测量

2.2.1 依照标准,继电器列出的电气参数规范中应详细指明必须动作电压、不动作电压和不释放电压、必须释放电压。某规定标明吸合电压可通过“电压由零增加至继电器动作时测量得到的吸合值”方式进行测量。于是多个继电器仪表厂家及企业也采用一般吸合、释放电压测试波形方法生产综合参数测试仪。这造成一台综合参数测试仪在对继电器吸合参数进行测量时会得到吸合电压、不动作电压和衔铁吸合电压三个值,具体难以分辨出哪一个是继电器吸合电压。直流电磁继电器的释放与吸合不但受到线圈电压大小的影响,还和保持时间相关。交流继电器的释放、吸合还与施加电压的相位及电压频率有关,此要点在参数测试仪中并未能体现出来。

2ษ.2.2 在线圈施加动作电压后,继电器出现吸合动作。能否判断继电器合格。依据GJB 65B 4.8.8.3的规定,测试时,若线圈以高于规定动作或复归值激励时,或线圈电压由标准释放电压减小至零压时,或当线圈电压减小至高于标准保持电压值的任一值时,所有触点都不应改变状态。由此规定❣看出应判断为不合格。然而依据GJB 65B 6.5.5的“在继电器处于非激励状态下,增大其电压或电流至一定值,在不大于此值时所有触电都应动作”的标准,则应判断为合格。在此过程中,施加电压的时间才是关键点。若在动作电压下激励的时间高于3倍的吸合时间继电器才完成吸合,则应判断为不合格,若不是则应判断为合格。

2.3 分辨率

当前一些设备、仪表厂家对继电器设计标准、工作原理等掌握不足,常使用参照或参考相关标准等模糊性语言来介绍其产品。但部分仪表的分辨率却远超过相关标准规定。如依照继电器标准规定,在对时间参数进行测量时,“测试设备需能准确指示脉宽高于1us的失效”,也就是应保证仪器的分辨率在1us。对触电回跳的规范定义为:若会跳脉冲幅值大于或等于90%的额定电压,且时间大于或等于10us的异常现象均视为一次触点回跳。但部分继电器综合参数测试仪对触电回跳进行检测时,其分辨率只能达到100us左右。使用此类设备检测触电回跳,其测量可靠性难以保证。

2.4 悬吊电压测量

3 结语

继电器检测的质量将直接关系着继电器的运行质量和效率,因此,相关技术与研究人员应加强有关继电器检测问题的研究,总结继电器检测的常见问题及关键技术解决措施,以逐步提高继电器检测水平,改善继电器应用质量。

参考文献

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